上锡性能测试
针对PCBA虚焊、枕头效应,专业第三方实验室可提供零件上锡性能测试。通过沾锡天平仪测定润湿力与接触角,依据检测标准判定元器件可焊性,助力电子制造企业提升焊接良率。
以检炼丹 淬炼日常,专注检测科技的世界!
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半导体元器件可焊性测试专注电子零件上锡性能可靠性检测,依据IPC-J-STD-002、AEC-Q100标准,提供润湿天平测试、浸锡可焊性、蒸汽老化、耐焊接热检测,第三方实验室出具CNAS、CMA权威报告,适配消费电子、工控、车载元器件来料与量产品质认证
在VOC(挥发性有机化合物)测试中,有害物…
半导体芯片、分立器件、传感器上锡性能(可焊性)测试,遵循 IPC-J-STD-002、AEC-Q100 标准,支持润湿天平、浸锡、回流焊模拟,出具 CNAS/CMA 报告,满足车规与量产准入。